Les techniques de calibrage pour obtenir une solution de test enti\u00e8rement corrig\u00e9e demandent de disposer des \u00e9talons pour chacun des ports (interfaces) du montage de test. Dans les environnements o\u00f9 l\u2019acc\u00e8s ou la disponibilit\u00e9 des \u00e9talons pour le calibrage n\u2019est pas possible, la m\u00e9thode traditionnelle consiste \u00e0 ignorer les probl\u00e9matiques ou supposer qu\u2019une partie du dispositif de test est sym\u00e9trique avec une adaptation parfaite. Mais ce sc\u00e9nario \u00e9tant improbable, l\u2019utilisation des techniques pr\u00e9c\u00e9dentes conduit \u00e0 des erreurs d\u2019extraction et de mesure.
\nOffrant des outils avanc\u00e9s pour r\u00e9aliser la fonction d\u2019extraction, cette option permet aux ing\u00e9nieurs d\u2019ajouter, de mani\u00e8re incr\u00e9mentielle, des \u00e9talons et des donn\u00e9es caract\u00e9ristiques au fur et \u00e0 mesure qu\u2019elles sont disponibles afin de donner une meilleure pr\u00e9cision lors de l\u2019extraction des param\u00e8tres d\u2019un r\u00e9seau. <\/p>\n
Pour faciliter l\u2019analyse des d\u00e9fauts isol\u00e9s dans le montage de test, l\u2019option inclut une fonction de Sequential Peeling. Etant bas\u00e9e sur la correspondance des fonctions de phase, les ing\u00e9nieurs peuvent ainsi g\u00e9n\u00e9rer un fichier .sNp pour une partie d\u2019un montage de test. Fournissant davantage d\u2019informations d\u00e9taill\u00e9es sur le montage, cette fonction offre l\u2019opportunit\u00e9 d\u2019am\u00e9liorer facilement la conception du montage de test.<\/p>\n
Cette option \u00e9tend les excellentes possibilit\u00e9s de cette gamme d\u2019analyseurs de r\u00e9seaux vectoriels afin d\u2019optimiser la mesure sur wafer et d\u2019effectuer des mesures pour les syst\u00e8mes de transmission de donn\u00e9es hauts d\u00e9bits. Ces analyseurs utilisent la technologie brevet\u00e9e NLTL (Non-Linear Transmission Line) pour offrir une plus large couverture, allant de 70 kHz \u00e0 145 GHz avec un seul balayage. Les ing\u00e9nieurs en recherche et d\u00e9veloppement disposent ainsi des performances n\u00e9cessaires pour concevoir de mani\u00e8re fiable et pr\u00e9cise des composants de derni\u00e8res technologies.<\/p>\n