{"id":226096,"date":"2013-01-20T23:00:00","date_gmt":"2013-01-20T23:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/eenewseurope.artwhere.co\/testeurs-de-taux-derreurs-binaires-multicanaux-a-32-gbits-s\/"},"modified":"2013-01-20T23:00:00","modified_gmt":"2013-01-20T23:00:00","slug":"testeurs-de-taux-derreurs-binaires-multicanaux-a-32-gbits-s","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/test.ecinews.fr\/fr\/testeurs-de-taux-derreurs-binaires-multicanaux-a-32-gbits-s\/","title":{"rendered":"Testeurs de taux d\u2019erreurs binaires multicanaux \u00e0 32 Gbits\/s"},"content":{"rendered":"

Les pressions du marché pour le développement de liaisons de communication optiques et de données à haut débit sont plus intenses que jamais, notamment du fait de la croissance exponentielle des smartphones, tablettes et autres applications vidéo gourmandes en bande passante. À leur tour, les chercheurs et concepteurs de communication de données ont besoin d’un équipement de test à haut débit pour caractériser et tester les interfaces optiques et de série, qui utilisent généralement plusieurs canaux dont les débits de données sont compris entre 10 et 32 Gbits\/s par canal.
\nPour tester les formats de modulation optique cohérents, tels que DP-QPSK, la série PPG3000, avec ses 4 canaux à alignement de phase, peut être utilisée conjointement avec l’analyseur de signaux d’ondes lumineuses cohérents série OM4000 pour permettre aux concepteurs optiques d’optimiser et de valider les formats de modulation cohérents en temps réel. Pour les tests de taux d’erreur binaire, la série PED3000 peut être combinée avec la série PPG3000 pour assurer une analyse de BER pouvant atteindre un débit de 32 Gbits\/s avec prise en charge des canaux multiples pour une identification rapide des problèmes de diaphonie courants dans les architectures à plusieurs voies de communication de données. Par exemple, avec le test du standard IEEE802.3ba, les concepteurs peuvent simuler un banc d’essai 4 x 28G pour réaliser un stress-test de la conception de leurs récepteurs. Le débit de données de 32 Gbits\/s avec insertion de gigue réglable leur permet d’améliorer le rendement et les performances de leurs produits finaux ou puces.
\n"L’ajout des séries PPG3000 et PED3000 à notre portefeuille de BERT nous permet de proposer à nos clients un grand choix pour les tests critiques des standards 100G," explique Brian Reich, Directeur Général du service Oscilloscopes de Performance Oscilloscopes chez Tektronix. "Pour une analyse approfondie qui nécessite une total intégrité du signal, nous continuons de proposer notre famille de produits primée, BERTScope. Les nouvelles séries PPG3000 et PED3000 ajouter la possibilité d’effectuer des tests BERT qui nécessitent une génération de mire de données alignées multi-canal pouvant atteindre 32 Gbits\/s."
\nComposée de six modèles au total, la série de générateurs de mire multi-canal comprend des modèles offrant des débits de 30 Gbits\/s ou 32 Gbits\/s avec un, deux ou quatre canaux. Avec des fonctionnalités telles que les sorties synchronisées et à ajustement de phase ou la génération de PRBS ou de mire définie par l’utilisateur, ces instruments offrent la souplesse nécessaire pour résoudre un large éventail de problèmes de conception, y compris la diaphonie. Au fur et à mesure que les vitesses augmentent et que les configurations à voies multiples telles que l’Ethernet 100G deviennent monnaie courante, la diaphonie apparaît comme un défi de conception majeur.
\nDisponible avec un ou deux canaux, la série de détecteurs d’erreurs permet de tester l’ensemble des standards multicanaux comme Ethernet 100G. Les instruments combinent une haute sensibilité, inférieure à 20 mV mesurée à 30 Gbits\/s, avec un large éventail de débits de données allant de 32 Mbits\/s à 32 Gbits\/s. Les fonctions de vérification des erreurs comprennent les PRBS ou mires définies par l’utilisateur, les entrées de données différentielles à couplage DC, l’entrée d’horloge asymétrique et l’alignement automatique sur la mire d’entrée.
\nFonctionnant ensemble comme un système entièrement intégré, individuellement ou en association avec d’autres instruments de la gamme, ces deux séries de testeurs offrent aux concepteurs un large éventail de débits de données, de mires, de contraintes et de niveau de sortie pour répondre aux standards les plus divers. Les utilisateurs peuvent rapidement configurer les tests à la volée au moyen d’une interface utilisateur tactile facile à utiliser. Cette opération extrêmement simple réduit le temps de formation et améliore l’efficacité des tests.<\/p>\n<\/p>\n

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