{"id":227890,"date":"2013-09-05T22:00:00","date_gmt":"2013-09-05T22:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/eenewseurope.artwhere.co\/testeurs-offrant-la-4eme-dimension-du-test-a-sondes-mobiles\/"},"modified":"2013-09-05T22:00:00","modified_gmt":"2013-09-05T22:00:00","slug":"testeurs-offrant-la-4eme-dimension-du-test-a-sondes-mobiles","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/test.ecinews.fr\/fr\/testeurs-offrant-la-4eme-dimension-du-test-a-sondes-mobiles\/","title":{"rendered":"Testeurs offrant la 4\u00e8me dimension du test \u00e0 sondes mobiles"},"content":{"rendered":"

Les cartes électroniques à la pointe de la technologie sont de plus en plus petites et hautement équipées de très petits composants à haute densité tels que, par exemple, des chips CMS 01005 et les derniers boîtiers métriques comme le 03015. Ces testeurs intègrent des innovations matérielles de haute précision ainsi que des logiciels évolués qui les rendent parfaitement adaptés pour tester des circuits miniaturisés de composants haute densité. Ils garantissent une accessibilité sur les équipotentiels difficile d’accès, quand il n’y a pas de place pour les points de tests traditionnels, sans laisser de marques visibles sur le circuit testé.
\nProfitant de l’évolution version 3.0 du logiciel VIVA et des dernières ressources de mesures mises en place sur les sondes, ces machines permettent l’application de plusieurs types de tests et des techniques d’inspections afin de fournir la couverture de test maximale au travers d’un large éventail de technologies. La plate-forme offre des capacités améliorées de tests électriques et thermiques ainsi que la programmation numérique intégrée de composants complexes. Des performances d’inspection optiques innovantes autorisent des tests non invasifs pour détecter la polarité des capacités ainsi que la description de LED et une vérification conforme aux plus strictes spécifications de l’industrie automobile, le tout regroupé dans un seul et même programme de test complet.
\nCes testeurs à sondes mobiles ont été conçus pour minimiser le facteur temps, en terme de temps de réglage, de test de la carte ainsi que pour la détection des fautes et la réparation des cartes. Afin d’obtenir une solution entièrement automatisée, l’ensemble de la gamme peut être équipée, en option, pour le chargement\/déchargement de racks unitaires ou multiples et des cartes électroniques à tester, ce qui améliore la productivité et réduit de besoin d’un opérateur dédié.
\nCes machines <\/em><\/strong>apportent des avantages au test à sonde mobile pour les 4 étapes du cycle de vie d’une carte électronique. Pour la phase du prototype, une fois les données de CAO disponibles, le programme de test peut être prêt en quelques minutes, fournissant aux designers et ingénieurs process des informations immédiates nécessaires à leur travail de développement des nouveaux produits et de mise en place des procédés de fabrication.
\nLa phase de production est facilitée par le chargement entièrement automatisé optionnel. De plus, la configuration de test double face sur les systèmes verticaux assure la vérification de centaines de cartes électroniques par jour.
\nPour la phase de réparation, la plate-forme comprend une suite d’une quinzaine de techniques de tests différentes, complémentaires les unes aux autres et entièrement automatiques. Cela permet de maximiser la couverture de fautes et les capacités de diagnostic. Grâce à la possibilité d’alimenter la carte, le test fonctionnel peut être effectué tant au niveau analogique que numérique.
\nEnfin, dédiée aux performances de l’ingénierie inversée souvent utiles dans l’environnement de réparation (Legacy Remplacement), cette gamme de testeurs est capable de reconstruire les schémas des cartes et les données CAO de produits périmés ou obsolètes qui, cependant, doivent être pris en charge sur une période de temps prolongée. Ce sont des applications typiques rencontrées dans les industries avionique, ferroviaire et de défense.<\/p>\n<\/p>\n

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Les fabricants de cartes \u00e9lectroniques doivent se battre avec de multiples facteurs li\u00e9s aux \u00ab\u00a0dimensions\u00a0\u00bb telles que la surface occup\u00e9e des lignes de production, la miniaturisation des cartes et des composants ainsi que leur complexit\u00e9 accrue, le co\u00fbt des moyens de test, le nombre de personnes \u00e0 former et surtout la dimension du \u00ab\u00a0temps\u00a0\u00bb consacr\u00e9. Repr\u00e9sentant la \u00ab\u00a04\u00e8me dimension\u00a0\u00bb dans les testeurs \u00e0 sondes mobiles, la gamme Pilot 4D de Seica, incluant les mod\u00e8les V8, M4, L4 et H4, fournit un ensemble de fonctionnalit\u00e9s et de performances destin\u00e9es \u00e0 modifier les attentes actuelles du test pour ceux qui font face aux d\u00e9fis pos\u00e9s par l’\u00e9volution rapide des technologies et de la dynamique, pr\u00e9sente et future, du march\u00e9 de l’\u00e9lectronique. <\/p>\n","protected":false},"author":22,"featured_media":227891,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[881],"tags":[],"domains":[47],"ppma_author":[1149],"class_list":["post-227890","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-nouveaux-produits","domains-electronique-eci"],"acf":[],"yoast_head":"Testeurs offrant la 4\u00e8me dimension du test \u00e0 sondes mobiles ...<\/title>\n<meta name=\"description\" content=\"Les fabricants de cartes \u00e9lectroniques doivent se battre avec de multiples facteurs li\u00e9s aux "dimensions" telles que la surface occup\u00e9e des lignes de...\" \/>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/test.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/227890\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"fr_FR\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Testeurs offrant la 4\u00e8me dimension du test \u00e0 sondes mobiles\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"Les fabricants de cartes \u00e9lectroniques doivent se battre avec de multiples facteurs li\u00e9s aux "dimensions" telles que la surface occup\u00e9e des lignes de production, la miniaturisation des cartes et des composants ainsi que leur complexit\u00e9 accrue, le co\u00fbt des moyens de test, le nombre de personnes \u00e0 former et surtout la dimension du "temps" consacr\u00e9. 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